Zeiss lancerer kombineret mikroskop og målemaskine

• Af:
  
• Thore Dam Mortensen

Det er nu muligt at tilmelde sig præsentationen, der foregår online, hvor fordelene ved at kombinere mikroskopiske inspektions- og måleopgaver på samme maskine vil blive præsenteret.

Sessionen vil nærmere bestemt blive vist på Elektronik-temadagen den 18. april med applikationseksempler, softwaredemonstrationer og en udtalelse med førstehåndsindtryk fra en af virksomhedens pilotkunder.

Se mere om eventet og tilmelding her.