Metrologidag i AM-teknologiernes tegn

• Af:
  
• Thore Dam Mortensen

AM-teknologi kræver nemlig nye tiltag inden for måleområdet, fremhæver arrangørerne fra Tekologisk Institut, da der kan opstå andre udfordringer end på de kendte fra almindelige fremstillings metoder.

En anden tendens, der karakteriserer metrologi lige nu, er brugen af ”Non-Contact” måleudstyr til karakterisering af overflade egenskaber, og dette vil der blive gået i dybden med på dagen, blandt andet med et indlæg om CT-skanning ved seniorkonsulent på Teknologisk Institut, Stefania Gasparin.

På oplægsholdersiden er arrangørerne i år lykkedes med at få Petros Stavroulakis fra University of Nottingham til at holde årets Keynote-tale, der vil byde ind med et internationalt perspektiv på udviklingen.

På industrisiden vil Danfoss byde ind med deres erfaringer om opmåling af 3D-printede emner og aktuelle og kommende udfordringer ved specialist Saeed D. Farahani.

Hvad angår skaningsområdet vil Søren Schou Gregersen fra DTU COMPUTE desuden fortælle om status og muligheder for fremtiden med metrologigrade optisk 3D-skanning.