7. CIA-CT konference med CT-skanning

• Af:
  
• John Nyberg

Torsdag er det tid for 7. CIA-CT-konference, som i år holdes hos DTU Mekanik. Det overordnede emne er denne gang “Industrial Applications of Computed Tomography”.

På konference vil deltagerne således få adgang til de seneste løsninger inden for brugen af ​​Computed Tomography (CT) til dimensionel metrologi i industrien.

Konferenceprogrammet omfatter 11 internationale eksperter og industrielle brugere af CT samt producenter af CT-skannere, heriblandt Tristan Schubert fra Werth Messtechnik, der holder et af indlæggene, oplyser den danske Werth-forhandler, Metrologic.

Nogle af de emner, der vil blive belyst på konferencen er udfordringer og løsninger i relation til brug af CT i forbindelse med Industrie 4.0, additiv fremstilling, kvalitetsstyring, multimaterialeemner, mikroindsprøjtning og medicinske implantater.