Schweiziske Studer lancerer en special version af den eksterne cylindriske slibemaskine S41 med integreret røntgenskanning i maskinen.
Med henblik på at møde den stigende efterspørgsel efter højpræcisions Wafer-skiver til halvlederindustrien har slibemaskinproducenten Studer udviklet en specialudgave af producentens S41-rundsliber med et integreret X-Ray-målehoved.
Målehovedet, døbt XRD-OEM, benyttes til integreret måling og kontrol af krystalaksen af et optisk eller elektronisk krystallinsk materiale i forhold til slibeaksen.
Annonce - artiklen fortsætter under banneret
På denne måde kan producenten minimere materialetab og opnå de ønskede geometriske egenskaber for materialet med høj præcision såsom diameter, flader og indhak i kun én slibeoperation, fremhæves det.
