Teknovation Logo



 

Overfladeindustrien samles til international konference på DTU

  • Silicon Drift Detectors er blandt andet i fokus ved eventet.

28. april 2022, kl. 15:16 

Den 1. og 2. juni slår ATV-SEMAPP dørene op til det internationale to-dages-event Surface Characterization Conference på DTU i Lyngby med deltagelse af industrispecialister fra blandt andre Zeiss, Konica Minolta og Krüss Scientific.


Der er tale om det tredje Surface Characterization Conference-event, hvor branchefolk kan møde eksperter fra førende europæiske industrivirksomheder og akademiske forskere med henblik på at blive klogere på den seneste viden inden for overfladekarakterisering.

Der vil over de to dage blive holdt en række oplægssessioner inden for temaer som elektron & helium-ion-mikroskopi, Big Science, optiske teknikker, mekaniske teknikker, kemiske analyser og overfladebehandlinger.

Blandt oplægsholderne er repræsentanter fra virksomheder som Alfa Laval, DTU, Anton Paar Nordic, ST Instruments, Spectral AB, Bruker AB, Zeiss Research Microscopy Solutions, Sensofar Tech SL, Konica Minolta Sensing Europe, SDU, Krüss Scientific Gmbh, IPU Denmark, Teknologisk Institut og Force Technology.

Arrangørerne fremhæver endvidere den unikke mulighed for at komme ud og netværke med det store antal eksperter og deltagende branchefolk under den tilhørende minimesse/udstilling, hvor oplægsholderne vil demonstrere udstyr live.

Endelig har deltagerne også mulighed for at vende specifikke udfordringer med eksperterne og måske endda få analyseret egne prøver på stedet, påpeges det.

Se mere om programmet og tilmelding her.


  • Del denne artikel på Facebook
  • Del denne artikel på Twitter
  • Del denne artikel på LinkedIn

 



 
 
 
 
 
Teknovation
 
 
Teknovation ApS
Sydvestvej 110, 1
2600 Glostrup
T. 46139000
M. info@teknovation.dk
CVR Nr. 28680392

 
Copyright © Teknovation ApS
All Rights Reserved.
CMS: Scalar Media

Persondata- og cookiepolitik